Ogólnie rzecz biorąc, gdy prąd testowy jest większy niż 15mA, przebiegi testowe są powtarzalne i można je układać w stos, a jeden przebieg ma jedną transmisję, trzy odbicia, a amplituda impulsu jest stopniowo osłabiana, mierzona odległość to odległość od punktu uszkodzenia do koniec testowy kabla; W przeciwnym razie jest to odległość od punktu uszkodzenia do przeciwległego końca testu kabla. Poniżej znajduje się krótki opis metody badawczej opartej na odporności punktu defektu:
(1) Gdy rezystancja w punkcie zwarcia jest równa wartości niemierzalnej, łatwo jest znaleźć usterkę obwodu otwartego za pomocą metody impulsów wysokiego napięcia. Ogólnie rzecz biorąc, wada autentycznego obwodu otwartego nie jest rzadkością. Generalnie wadą obwodu otwartego jest współistnienie wysokiej rezystancji do ziemi lub faza-faza i niskiej rezystancji do ziemi lub fazy do fazy.
(2) Gdy rezystancja punktu uszkodzenia jest większa niż niska Wen i mniejsza niż 100 kiloomów, łatwo jest znaleźć wadę niskiej rezystancji, mierząc metodą impulsów wysokiego napięcia.
(3) Wadę rozgorzenia można zmierzyć metodą bezpośredniego błysku. Ta wada na ogół istnieje poza złączem. Rezystancja punktu defektu jest większa niż 100 kiloomów, ale wartość zmienia się znacznie, a każdy pomiar jest niepewny
(4) Wady rozgorzenia zwykle występują w prewencyjnym teście wytrzymałości napięciowej, a większość z nich występuje na zaciskach kabli oraz na środkowym i bezpośrednim końcu.
(5) W przypadku wad o dużej rezystancji, metoda impulsowa może być użyta do pomiaru rezystancji punktu wady, która jest większa niż 100 kiloomów, a wartość można określić. Urządzenia te mogą kontrolować błąd pomiaru w zakresie kilkudziesięciu centymetrów. Mogą bezpośrednio znaleźć punkt defektu i zatrzymać przetwarzanie, co poprawia skuteczność wykrywania defektów. Na przykład aktualna technologia testowania odbioru sygnałów w punkcie uszkodzenia z sygnału częstotliwości głosu do kabla oraz dokładne pozycjonowanie punktu uszkodzenia za pomocą testera uszkodzeń kabla CD-12-22.
Obecnie popularną metodą testowania jest metoda flash test, która obejmuje błysk impulsowy i błysk bezpośredni. Powszechnie stosowaną metodą jest metoda błysku impulsowego. Aby poprawić poziom techniczny testowania wad kabli, należy przyjąć różne metody dla różnych właściwości wad, a od czasu do czasu należy wprowadzać nowe technologie i urządzenia. Jednocześnie należy zgłębiać doświadczenie na nowym sprzęcie, aby opracować nowe funkcje.
